رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74ABT18652PM
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74ABT18652PM-DG
وصف:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
وصف تفصيلي:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
المخزون:
1545477
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74ABT18652PM المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
Tray
سلسلة
74ABT
حالة المنتج
Active
نوع المنطق
Scan Test Device With Transceivers And Registers
جهد الإمداد
4.5V ~ 5.5V
عدد البتات
18
درجة حرارة التشغيل
-40°C ~ 85°C
نوع التركيب
Surface Mount
العبوة / العلبة
64-LQFP
حزمة جهاز المورد
64-LQFP (10x10)
رقم المنتج الأساسي
74ABT18652
مواصفات تقنية ومستندات
أوراق البيانات
معلومات إضافية
الباقة القياسية
160
اسماء اخرى
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
3 (168 Hours)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
