رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74ABT8952DL
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74ABT8952DL-DG
وصف:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
وصف تفصيلي:
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-BSSOP
المخزون:
17133 قطع جديدة أصلية في المخزون
1695360
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74ABT8952DL المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
Tube
سلسلة
74ABT
حالة المنتج
Obsolete
نوع المنطق
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
جهد الإمداد
4.5V ~ 5.5V
عدد البتات
8
درجة حرارة التشغيل
-40°C ~ 85°C
نوع التركيب
Surface Mount
العبوة / العلبة
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
حزمة جهاز المورد
28-BSSOP
رقم المنتج الأساسي
74ABT8952
معلومات إضافية
الباقة القياسية
40
اسماء اخرى
2156-SN74ABT8952DL-TI
SN74ABT8952DLG4
-296-4115-5
-296-4115-5-DG
-SN74ABT8952DLG4
-SN74ABT8952DLG4-NDR
-SN74ABT8952DL-NDR
296-4115-5
TEXTISSN74ABT8952DL
296-4115-5-NDR
SN74ABT8952DLG4-DG
-296-4115-5-NDR
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
1 (Unlimited)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74ABTH182646APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
