رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74BCT8240ANT
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74BCT8240ANT-DG
وصف:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
وصف تفصيلي:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
المخزون:
1575848
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74BCT8240ANT المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
-
سلسلة
74BCT
حالة المنتج
Obsolete
نوع المنطق
Scan Test Device with Inverting Buffers
جهد الإمداد
4.5V ~ 5.5V
عدد البتات
8
درجة حرارة التشغيل
0°C ~ 70°C
نوع التركيب
Through Hole
العبوة / العلبة
24-DIP (0.300", 7.62mm)
حزمة جهاز المورد
24-PDIP
رقم المنتج الأساسي
74BCT8240
مواصفات تقنية ومستندات
معلومات إضافية
الباقة القياسية
60
اسماء اخرى
TEXTISSN74BCT8240ANT
2156-SN74BCT8240ANT-TI
-SN74BCT8240ANT-NDR
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
1 (Unlimited)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74BCT8245ADWR
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
SY100EL16VAZC TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
SY100EL16VZC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
