رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74BCT8244ADWR
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74BCT8244ADWR-DG
وصف:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
وصف تفصيلي:
Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
المخزون:
1719756
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74BCT8244ADWR المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
-
سلسلة
74BCT
حالة المنتج
Discontinued at Digi-Key
نوع المنطق
Scan Test Device with Buffers
جهد الإمداد
4.5V ~ 5.5V
عدد البتات
8
درجة حرارة التشغيل
0°C ~ 70°C
نوع التركيب
Surface Mount
العبوة / العلبة
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
حزمة جهاز المورد
24-SOIC
رقم المنتج الأساسي
74BCT8244
مواصفات تقنية ومستندات
أوراق البيانات
معلومات إضافية
الباقة القياسية
2,000
اسماء اخرى
SN74BCT8244ADWRG4-DG
SN74BCT8244ADWRE4
SN74BCT8244ADWRE4-DG
SN74BCT8244ADWRG4
2156-SN74BCT8244ADWR-TITR-DG
2156-SN74BCT8244ADWR
TEXTISSN74BCT8244ADWR
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
1 (Unlimited)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74GTLP22034GQLR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 56-BGA
SY10EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SN74BCT8244ANTG4
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
