رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74LVTH18646APMG4
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74LVTH18646APMG4-DG
وصف:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
وصف تفصيلي:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
المخزون:
683 قطع جديدة أصلية في المخزون
1863221
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74LVTH18646APMG4 المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
Bulk
سلسلة
74LVTH
حالة المنتج
Active
نوع المنطق
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
جهد الإمداد
2.7V ~ 3.6V
عدد البتات
18
درجة حرارة التشغيل
-40°C ~ 85°C
نوع التركيب
Surface Mount
العبوة / العلبة
64-LQFP
حزمة جهاز المورد
64-LQFP (10x10)
رقم المنتج الأساسي
74LVTH18646
مواصفات تقنية ومستندات
أوراق البيانات
معلومات إضافية
الباقة القياسية
160
اسماء اخرى
SN74LVTH18646APMG4INACTIVE
TEXTISSN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APMG4
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
2 (1 Year)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN
M38510/34201BFA
4-BIT BINARY FULL ADDERS WITH FA